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使用X射線熒光光譜儀時避免影響測量的方法
發(fā)布時間:2019-06-13 10:11:19 點擊:6394
現(xiàn)場測量時,總會有一些原因造成誤差,影響測量的效果,但這些因素其實可以避免,下面我們來談?wù)勗鯓诱_使用X射線熒光光譜儀,避免測量誤差。
在現(xiàn)場測量中,巖石表面凹凸不平,巖石的結(jié)構(gòu)也不同,不均勻,X射線熒光光譜儀的探頭放置在上面時,同位素源于巖礦表面距離往往不能與標(biāo)準(zhǔn)測量時完全相同。這種距離的變化只要毫米數(shù)量級就會引起較大的誤差,特別在測量輕元素,中等元素時(如P,S,Ti,Cu,Fe,Zn,Cr,Mo等),因此,進行現(xiàn)場測量時要選擇巖石露頭比較平坦的新鮮表面,對于極不平坦的巖石露頭,應(yīng)該人工加以整平,力求做到與標(biāo)準(zhǔn)測量條件相同。
X射線熒光光譜儀測量不平整巖石
在測量方法上,應(yīng)在原來位置多次重新安放探頭,并相應(yīng)測出數(shù)據(jù),取其平均值,可以達到與制作標(biāo)準(zhǔn)曲線時的測量條件基本一致。因為這種因巖石表面不平整產(chǎn)生的誤差屬于偶然誤差范疇,只要有足夠多次的變位測量,其偶然誤差的平均值將趨于零。
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